X光繞射理論(1102_R2CM000002A)

英文名稱: X-Ray Diffraction ;
授課目的： 描述x-光繞射原理，使學生了解如何以x-光進行材料結構分析，未知化合物測定，成份分析，粉體顆粒大小測定等。;
教學模式： 講演;
學分數：3;
成績計算方式： 期中考50%，期末考50%。;
開課教師： 張世航 教授 (shchang@niu.edu.tw);